Термічний відпал флеш-пам'яті збільшить її довговічність у тисячі разів |
Monday, 03 December 2012 |
Дослідники з тайванської компанії Macronix запропонували інноваційний спосіб багатократного збільшення довговічності флеш-пам'яті. Принцип роботи флеш-пам'яті заснований на зміні та реєстрації електричного заряду в ізольованій області («кишені») напівпровідникової структури. Однак цей процес пов'язаний із накопиченням незворотних змін у структурі, а тому кількість записів для комірки флеш-пам'яті обмежена (зазвичай близько 10 тис. разів для MLC-пристроїв). Одна з причин деградації - неможливість індивідуально контролювати заряд плаваючого затвора у кожній комірці. Інша причина - взаємна дифузія атомів ізолюючих і провідних областей напівпровідникової структури, прискорена градієнтом електричного поля в області «кишені» і періодичними електричними пробоями ізолятора при записі та стиранні. Це призводить до розмивання меж і погіршення якості ізолятора.
Структура флеш-пам'яті Macronix. Macronix пропонує збільшити термін служби флеш-пам'яті за рахунок застосування технології термічного відпалу (Thermal Annealing). Спеціальний нагрівальний елемент на нетривалий час (мілісекунди) підвищує температуру комірок до більш ніж 800 ˚C. Це призводить до самовідновлення структури пам'яті і збільшення терміну її експлуатації. За заявами Macronix, технологія дозволяє довести кількість циклів перезапису флеш-чипів до 100 мільйонів і більше, що у тисячі разів більше, ніж у стандартних виробів. Про результати роботи Macronix розповість 11 грудня на конференції IEDM 2012 у Сан-Франциско (Каліфорнія, США).
Джерело: InfoNova.org.ua За матеріалами: science.compulenta.ru
Наступні новини у розділі:
Попередні новини у розділі:
|